ChipGlobe - Know How Übersicht
Funktionale und mixed-signal Verifikation
- Constrained random coverage driven verification
- Mixed signal metric driven verification
- UPF/CPF power aware verification
- Verifikations Planung und Verifikations Management
- Unterstützung von SystemVerilog, UVM, Verilog, VHDL, SystemC, e Umgebungen
- Aufbau der Testbench Architektur
+ langjährige Erfahrungen mit Projekten bei großen, globalen Halbleiterherstellern.
+ First Time Right Methodik